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LJD-B型 絕緣材料介電常數(shù)測試儀 由S916測試裝置（夾具）、LJD-B/C型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件（裝入LJD-B或LJD-C的軟件模塊）、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設(shè)計制作

橡膠塑料介電常數(shù)測定儀 作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內(nèi)的160MHz.采用了多項技術(shù)。雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧

LJD-B型 陶瓷材料介電常數(shù)測試儀 是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項重要的物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切 tanδ 及介電常數(shù)（ε ），可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；該儀器用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。

介電常數(shù)測量儀產(chǎn)品用途：固體、液體絕緣材料的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試 適用材料：橡膠塑料薄膜、陶瓷玻璃、絕緣材料、高分子材料等 測試范圍：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ 主要配置：主機Q表、夾具、電感組成 測試項目：介電常數(shù)、介質(zhì)損耗、介質(zhì)損耗因數(shù)、介質(zhì)損耗角正切值

介電常數(shù)檢測儀符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1409、GB/T5594 產(chǎn)品用途：固體、液體絕緣材料的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試 適用材料：橡膠塑料薄膜、陶瓷玻璃、絕緣材料、高分子材料等 測試范圍：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ 主要配置：主機Q表、夾具、電感組成

介電常數(shù)測定儀的應(yīng)用及特點您了解嗎？LJD-B主機和LJD-C主機主要區(qū)別 LJD-B主機 LJD-C主機 測試頻率范圍 10kHz～70MHz/110MHz 100kHz～160MHz 主調(diào)電容控制 傳感器 步進馬達 電容搜索 無 有

介電常數(shù)測試儀您了解多少？實心電絕緣材料的交流損耗特性和 電容率（介電常數(shù)）的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法1 本標(biāo)準(zhǔn)是以固定代號D150發(fā)布的。其后的數(shù)字表示原文本正式通過的年號；在有修訂的情況下，為上一次的修訂年號；圓括號中數(shù)字為上一次重新確認(rèn)的年號。上標(biāo)符號（ε）表示對上次修改或重新確定的版本有編輯上的修改。

絕緣紙介電常數(shù)介質(zhì)損耗測定儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。