產(chǎn)品名稱：介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)定儀廠家

產(chǎn)品型號(hào)：LJD-B、LJD-C、QS-37

符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1409、GB/T5594

產(chǎn)品用途：固體、液體絕緣材料的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試

適用材料：橡膠塑料薄膜、陶瓷玻璃、絕緣材料、高分子材料等

測(cè)試范圍：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ

主要配置：主機(jī)Q表、夾具、電感組成

測(cè)試項(xiàng)目：介電常數(shù)、介質(zhì)損耗、介質(zhì)損耗因數(shù)、介質(zhì)損耗角正切值

使用人群：科研所、教學(xué)、質(zhì)量監(jiān)督局、軍工單位等

付款方式：全款發(fā)貨

產(chǎn)品品牌：縱橫金鼎儀器

產(chǎn)品貨期：1-3個(gè)工作日

產(chǎn)品類別：電性能檢測(cè)儀器

ASTM D150-11

實(shí)心電絕緣材料的交流損耗特性和

電容率（介電常數(shù)）的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法¹

本標(biāo)準(zhǔn)是以固定代號(hào)D150發(fā)布的。其后的數(shù)字表示原文本正式通過的年號(hào)；在有修訂的情況下，為上一次的修訂年號(hào)；圓括號(hào)中數(shù)字為上一次重新確認(rèn)的年號(hào)。上標(biāo)符號(hào)（ε）表示對(duì)上次修改或重新確定的版本有編輯上的修改。  介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)定儀廠家
　　　　本標(biāo)準(zhǔn)經(jīng)批準(zhǔn)用于國(guó)防部所有機(jī)構(gòu)。
1.介電常數(shù)測(cè)試儀范圍
1.1 本試驗(yàn)方法包含當(dāng)所用標(biāo)準(zhǔn)為集成阻抗時(shí)，實(shí)心電絕緣材料樣本的相對(duì)電容率，耗散因子，損耗指數(shù)，功率因子，相位角和損耗角的測(cè)定。列出的頻率范圍從小于1Hz到幾百兆赫茲。

注1：在普遍的用法，“相對(duì)”一詞經(jīng)常是指下降值。

1.2 這些試驗(yàn)方法提供了各種電極，裝置和測(cè)量技術(shù)的通用信息。讀者如對(duì)某一特定材料相關(guān)的議題感興趣的話，必須查閱ASTM標(biāo)準(zhǔn)或直接適用于被測(cè)試材料的其它文件。^2,3

1.3　　本標(biāo)準(zhǔn)并沒有*列舉所有的安全聲明，如果有必要，根據(jù)實(shí)際使用情況進(jìn)行斟酌。使用本規(guī)范前，使用者有責(zé)任制定符合安全和健康要求的條例和規(guī)范，并明確該規(guī)范的使用范圍。特殊危險(xiǎn)說明見7.2.6.1和10.2.1。

¹　本規(guī)范歸屬于電學(xué)和電子絕緣材料ASTM D09委員會(huì)管轄，并由電學(xué)試驗(yàn)D09.12附屬委員分會(huì)直接管理。

當(dāng)前版本核準(zhǔn)于2011年8月1日。2011年8月發(fā)行。原版本在1922年批準(zhǔn)。前一較新版本于2004年批準(zhǔn)，即為　D150-98R04。DOI：10.1520/D0150-11。

²　R. Bartnikas, 第2章, “交流電損耗和電容率測(cè)量,” 工程電介質(zhì), Vol. IIB, 實(shí)心絕緣材料的電學(xué)性能, 測(cè)量技術(shù), R. Bartnikas, Editor, STP 926,ASTM, Philadelphia, 1987.

³　R. Bartnikas, 第1章, “固體電介質(zhì)損耗,” 工程電介質(zhì),Vol IIA, 實(shí)心絕緣材料的電學(xué)性能: 分子結(jié)構(gòu)和電學(xué)行為, R. Bartnikas and R. M. Eichorn, Editors, STP 783, ASTM, Philadelphia, 1983.

2.介電常數(shù)測(cè)試儀引用文件
2.1 ASTM標(biāo)準(zhǔn)：⁴

D374 　　　　固體電絕緣材料厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

D618 　　　　試驗(yàn)用塑料調(diào)節(jié)規(guī)程

D1082 　　　云母耗散因子和電容率（介電常數(shù)）試驗(yàn)方法

D1531 　　　用液體位移法測(cè)定相對(duì)電容率（介電常數(shù)）與耗散因子的試驗(yàn)方法

D1711 　　　電絕緣相關(guān)術(shù)語

D5032 　　　用飽和甘油溶液方式維持恒定相對(duì)濕度的規(guī)程

E104 　　　　用水溶液保持相對(duì)恒定濕度的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程

E197 　　　　室溫之上和之下試驗(yàn)用罩殼和服役元件規(guī)程（1981年取消）⁵

3.介電常數(shù)測(cè)試儀術(shù)語

3.1 定義：

3.1.1 這些試驗(yàn)方法所用術(shù)語定義以及電絕緣材料相關(guān)術(shù)語定義見術(shù)語標(biāo)準(zhǔn)D1711。

3.2 本標(biāo)準(zhǔn)術(shù)語定義：

3.2.1 電容，C，名詞——當(dāng)導(dǎo)體之間存在電勢(shì)差時(shí)，導(dǎo)體和電介質(zhì)系統(tǒng)允許儲(chǔ)存電分離電荷的性能。

3.2.1.1 討論——電容是指電流電量 q與電位差V之間的比值。電容值總是正值。當(dāng)電量采用庫倫為單位，電位采用伏特為單位時(shí)，電容單位為法拉，即：

C=q/V 　　　　　　　　　　（1）

3.2.2 耗散因子（D），（損耗角正切），（tanδ），名詞——是指損耗指數(shù)（K''）與相對(duì)電容率（K'）之間的比值，它還等于其損耗角（δ）的正切值或者其相位角（θ）的余切值（見圖1和圖2）。

D=K''/K' 　　　　(2)

⁴　相關(guān)ASTM標(biāo)準(zhǔn)，可瀏覽ASTM網(wǎng)站，或與ASTM客服service@astm.org聯(lián)系。ASTM標(biāo)準(zhǔn)手冊(cè)卷次信息，可參見ASTM網(wǎng)站標(biāo)準(zhǔn)文件匯總。

⁵　該歷史標(biāo)準(zhǔn)的較后批準(zhǔn)版本參考網(wǎng)站

3.2.2.1 討論——a：

D=tanδ=cotθ=X_p/R_p=G/ωC_p=1/ωC_pR_p　　　　　　　　(3)

式中：

G=等效交流電導(dǎo)，

X_p=并聯(lián)電抗，

R_p=等效交流并聯(lián)電阻，

C_p=并聯(lián)電容，

ω=2πf（假設(shè)為正弦波形狀）

耗散因子的倒數(shù)為品質(zhì)因子Q，有時(shí)成為儲(chǔ)能因子。對(duì)于串聯(lián)和并聯(lián)模型，電容器耗散因子D都是相同的，按如下表示為：

D=ωR_sC_s=1/ωR_pC_p　　　　　　　　(4)

串聯(lián)和并聯(lián)部分之間的關(guān)系滿足以下要求：

C_p=C_s/(1 D²) 　　　　　　　　　　　　(5)

R_p/R_s=(1 D²)/D²=1 (1/D²)=1 Q²　　　　　　　　　　　　　(6)

4、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件（裝入LJD-C)，實(shí)現(xiàn)了數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析和計(jì)算的微處理化，tanδ 測(cè)量結(jié)果的獲得無須繁瑣的人工處理，因而提高了數(shù)據(jù)的精確度和測(cè)量的同一性，是人工讀值和人工計(jì)算*的。

三、主要技術(shù)特性及配置

主要配置

介電常數(shù)測(cè)試儀/GB/T1409-2006介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀/相對(duì)介電常數(shù)測(cè)試儀/介質(zhì)損耗測(cè)試儀/介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀/介質(zhì)損耗角正切值測(cè)試儀/GB/T1693-2007硫化橡膠高頻介電常數(shù)測(cè)試儀/工頻介電常數(shù)測(cè)試儀/固體介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀/液體介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀/材料介質(zhì)損耗和電容率測(cè)試儀/阻抗分析儀/GBT5594.4-2015陶瓷件介電常數(shù)測(cè)試儀/ASTM D150-11交流損耗特性和電容率測(cè)試儀/介電常數(shù)及介損測(cè)試儀作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國(guó)內(nèi)高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測(cè)試儀采用了多項(xiàng)技術(shù)。

雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。

雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。

自動(dòng)化測(cè)量技術(shù) -對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。

全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號(hào)源頻率、諧振指針。

DDS 數(shù)字直接合成的信號(hào)源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路優(yōu)化 —使測(cè)試回路 殘余電感減至z低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。

二、主要技術(shù)特性：

*1.信號(hào)源: DDS數(shù)字合成信號(hào) 100KHZ-160MHZ

*2.信號(hào)源頻率精度3×10-5 ±1個(gè)字,6位有效數(shù)

3．Q值測(cè)量范圍：1～1023

4．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔；

*5．電感測(cè)量范圍：1nH～140mH 自身殘余電感和測(cè)試引線電感的自動(dòng)扣除功能

*6．電容直接測(cè)量范圍：1pF～25nF                                       

7．主電容調(diào)節(jié)范圍： 17～240pF                                         

8．準(zhǔn)確度 150pF以下±1pF；150pF以上±1% 

9．信號(hào)源頻率覆蓋范圍100kHz～160MHz

10．合格指示預(yù)置功能范圍：5～1000

11．環(huán)境溫度：0℃～+40℃；

12．消耗功率：約25W；電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

13. S916（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測(cè)試裝置：

數(shù)顯式微桿，平板電容器：

極片尺寸： 38mm

極片間距可調(diào)范圍：≥15mm

夾具插頭間距：25mm±0.01mm

夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）

測(cè)微桿分辨率：0.001mm

測(cè)試極片：材料測(cè)量直徑Φ38mm厚度可調(diào) ≥ 15mm 

*液體杯：測(cè)量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm

14. 介電常數(shù)測(cè)試儀/GB/T1409-2006介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀/相對(duì)介電常數(shù)測(cè)試儀/介質(zhì)損耗測(cè)試儀/介質(zhì)損耗因數(shù)測(cè)試儀/介質(zhì)損耗角正切值測(cè)試儀/GB/T1693-2007硫化橡膠高頻介電常數(shù)測(cè)試儀/工頻介電常數(shù)測(cè)試儀/固體介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀/液體介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀/材料介質(zhì)損耗和電容率測(cè)試儀/阻抗分析儀/GBT5594.4-2015陶瓷件介電常數(shù)測(cè)試儀/ASTM D150-11交流損耗特性和電容率測(cè)試儀/介電常數(shù)及介損測(cè)試儀電感組LKI-1：

分別有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個(gè)電感組成。

三、配置：

主機(jī)    一臺(tái)

電感    九支

夾具    一套

液體杯 一套

隨機(jī)文件一套